如何进行电子元器件失效率试验？
电子元器件失效率试验就是测试电子元器件在一定时间内会不会“挂掉”，也就是坏掉，这个过程呢，主要有四个步骤
样品选择和准备
环境设定和试验条件
进行试验和记录数据 分析结果和计算失效率
下面咱就用，加上点味儿，详细给你解答一下
**样品选择和准备
首先得挑几个电子元器件出来，这些元器件要 representative（有代表性），不能挑那些看起来就歪瓜裂枣的，挑好之后，把它们安装到测试板上，接好线，准备好测试仪器。
**环境设定和试验条件
要给这些元器件模拟一个真实的工作环境，比如说温度、湿度、电压等等，都得按照它们实际工作的条件来设定，这样做是为了更准确地模拟元器件在实际使用中会遇到的情况。
**进行试验和记录数据
然后就开始试验了，让元器件在这个模拟环境中运行一段时间，这期间要时不时地检查它们的工作状态，一旦发现哪个元器件“挂掉”了，就要记录下来，这个过程就像“盯梢”一样，要一直盯着，不能放松。
**分析结果和计算失效率
把试验过程中收集到的数据整理一下，看看哪些元器件坏了，哪些没坏，然后根据这些数据算出失效率，失效率就是坏掉的元器件数量除以总的元器件数量，再乘以100%，这样就能知道这些元器件的质量咋样了。
***，电子元器件失效率试验就是通过模拟实际工作环境，测试元器件在一定时间内会不会坏，然后根据结果来判断它们的质量，要是你对这方面还有啥疑问，想了解更多细节，那就留言再次访问我们网站，咱们一起谈谈。
**如何进行电子元器件失效率试验**，你有啥经验疑问，欢迎评论区留言交流，大家一起进步！
版权声明：除非特别标注，否则均为本站“快卡神记”原创文章，转载时请以链接形式注明文章出处。
